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  • Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SE
    Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SE FilmTek™ 6000标准杆数-SE先进的多模薄膜计量系统在1x nm设计节点和更高的位置为广泛的薄膜层提供生产验证的薄膜厚度、折射率和应力测量监测。该系统能够在新一代集成电路的生产过程中实现更严格的过程控制,提高器件产量,并支持下一代节点技术的开发。
    更新日期:2024-12-02访问量:2783厂商性质:代理商
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  • Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP
    Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP ——紧凑型高性能剖面仪和AFM
    更新日期:2024-12-02访问量:2791厂商性质:代理商
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  • Bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP
    bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP ——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射
    更新日期:2024-12-02访问量:3816厂商性质:代理商
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  • Bruker布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD$n$n——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统
    更新日期:2025-01-15访问量:7728厂商性质:代理商
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  • Bruker XRD 布鲁克 JV-DX X射线衍射仪
    Bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD$n$n——X射线测量满足您的研发需求$n$nJordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射线衍射仪器。 该系统具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装,可以在*计算机/配方控制下在标准和高分辨率 X 射线衍射和 X 射线反射率模式之间切换,而无需手动更改配置。
    更新日期:2025-01-15访问量:5226厂商性质:代理商
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