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bruker Dektak Pro台阶仪介绍
BrukerDektakPro布鲁克台阶仪DektakPro™以其多功能,使用的便捷性和在薄膜厚度、台阶高度、应力、表面粗糙度和晶圆翘曲测量方面广受赞许。第十一代Dektak®系统,具有4Å重复性的表现,并提供200毫米平台选项,在科研以及工业领域中可以为材料的表面形貌提供各种分析。DektakPro在表面测量方面设立了新的目标,是微电子......
原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM),一种可用来研究包括导体、半导体和绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它的横向分辨率可达0.15m,而纵向分辨率可达0.05m,AFM最大的特点是可以测量表面原子之间的力,AFM可测量的最小力的量级为10-14-10-16N。AFM还可以测量表面的弹......
赛默飞X射线衍射仪是一种实验室中常用的分析仪器,广泛应用于材料分析、结构研究等领域。使用时进行实验需要注意实验条件的选择、样品制备的方法、实验操作的技巧以及对数据的处理和分析。只有掌握了正确的方法和技巧,才能得到准确可靠的实验结果。赛默飞X射线衍射仪的使用方法:首先,要选择适当的实验条件。X射线衍射实验需要使用高能的X......
新产品有售!布鲁克三维光学hth会体会ContourX-1000、NPFLEX-1000布鲁克三维光学hth会体会ContourX-1000落地式ContourX-1000白光干涉(WLI)系统集成了Bruker在硬件和软件上的新技术,可用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。布鲁克三维光学hth会体会NPFLEX-1000落地式NPFLE......
扫描探针显微镜(ScanningProbeMicroscope,SPM)是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜AFM,激光力显微镜LFM,磁力显微镜MFM等等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器,是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工、......
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